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赫爾納-供應(yīng)的歐洲貨源德國直采VOGT檢測儀

更新時間:2022-07-07

訪問量:812

廠商性質(zhì):經(jīng)銷商

生產(chǎn)地址:

簡要描述:
赫爾納-供應(yīng)的歐洲貨源德國直采VOGT檢測儀VOGT檢測儀借助 PHAsis,手動點焊測試與機器人控制的自動化點焊測試相結(jié)合。兩種測試系統(tǒng)具有共同的基礎(chǔ),但門針對您的個別應(yīng)用領(lǐng)域進行了優(yōu)化:用于手動點焊測試的 PHAsisNEO,用于自動點焊測試的 PHAsisBLU。
品牌其他品牌加工定制
類型便攜式測量范圍0.6 - 5mm
測量對象金屬板測量精度35
響應(yīng)時間2s電壓24v
分辨率7836尺寸186*536mm
重量2kg電源24

赫爾納-供應(yīng)的歐洲貨源德國直采VOGT檢測儀赫爾納-供應(yīng)的歐洲貨源德國直采VOGT檢測儀

赫爾納貿(mào)易優(yōu)勢供應(yīng),德國總部直接采購,近30年進口工業(yè)品經(jīng)驗,原裝產(chǎn)品,支持選型,為您提供一對一好的解決方案:貨期穩(wěn)定,快速報價,價格優(yōu),在中國設(shè)有8大辦事處提供相關(guān)售后服務(wù).

VOGT檢測儀主要產(chǎn)品:

超聲波檢測 (UT)

視覺檢查 (VT)

渦流檢測 (ET)

染料滲透測試 (PT)

PROline 超聲波檢測系統(tǒng)

VOGT檢測儀產(chǎn)品型號:

PROlineBAR

PROlineCOMPACT

VOGT檢測儀產(chǎn)品特點:

根據(jù) EN ISO 10447 測量的光斑直徑 dP

微距切割的鏡片直徑 dL。使用顯微照片視覺測量鏡片尺寸。公式 dL= x tmin 用作透鏡直徑的小尺寸。x 的公因數(shù)是 3.5 4(用戶特定

焊點處電極的壓痕深度(帽壓痕)

VOGT檢測儀產(chǎn)品應(yīng)用:

VOGT檢測儀開發(fā)了 PHAsis,這是一系列用于手動和機器人控制點焊測試的測試系統(tǒng)。PHAsis 檢測系統(tǒng)采用成像相控陣超聲技術(shù),實現(xiàn)了高的檢測。這就是為什么這些經(jīng)過驗證的測試系統(tǒng)主要用于汽車行業(yè)的原因。

VOGT檢測儀借助 PHAsis,手動點焊測試與機器人控制的自動化點焊測試相結(jié)合。兩種測試系統(tǒng)具有共同的基礎(chǔ),但門針對您的個別應(yīng)用領(lǐng)域進行了優(yōu)化:用于手動點焊測試的 PHAsisNEO,用于自動點焊測試的 PHAsisBLU。使用 PHAsis,我們的客戶可以靈活地決定哪些點應(yīng)該自動檢查,哪些應(yīng)該手動檢查。的測試結(jié)果和數(shù)據(jù)都合并在一個數(shù)據(jù)庫中,可以與客戶的 QS 系統(tǒng)進行通信。

VOGT檢測儀移動式超聲波檢測設(shè)備 PHAsis®,用于確檢測鋼和鋁上的電阻焊點。它取代了破壞性的 Hammer & Chisel 測試。PHAsis® 是款相控陣點焊檢測設(shè)備 (PAUT),其焊核直徑的物理分辨率超過 0.35 毫米。它適合測試 0.6 - 5mm 單片厚度的 2 片和 3 片金屬板連接。PHAsis® 為在生產(chǎn)中節(jié)省時間而開發(fā)。除了手動測試,它也適合與機器人一起使用。

VOGT檢測儀渦流檢測是基于電磁感應(yīng)的物理現(xiàn)象。在渦流探頭中,交流電流流過線圈,產(chǎn)生振蕩磁場。如果探頭及其磁場放置在導電材料附近,例如 B. 一個由金屬制成的試樣,一個循環(huán)的電子流,即所謂的渦流,開始在金屬中移動——就像水流中的漩渦。流經(jīng)金屬的渦流會產(chǎn)生自己的磁場,該磁場通過互感與線圈及其磁場相互作用。VOGT檢測儀金屬厚度的變化或近表面裂紋等缺陷會破壞或改變渦流的幅度和模式以及產(chǎn)生的磁場。這反過來又通過改變線圈的電阻抗來影響線圈中電子的運動。渦流計記錄阻抗幅度和相位角的變化,訓練有素的探測器可以使用這些變化來檢測樣本的變化。

VOGT檢測儀零件表面附近的渦流密度高,使其成為檢測分辨率高的區(qū)域。標準穿透深度定義為渦流密度為其表面值的 37% 時的深度,該深度又可以由測試頻率和測試材料的磁導率和電導率計算得出。例如,測試材料的電導率、磁導率、驅(qū)動線圈的交流脈沖頻率和線圈幾何形狀的變化會影響測試靈敏度、分辨率和穿透深度。

VOGT檢測儀影響渦流檢測能力的因素有很多。在電導率值較高的材料中流動的渦流對表面缺陷更敏感,但對材料的滲透較淺,滲透深度也取決于測試頻率。較高的探測頻率會增加表面附近的分辨率,但會限制穿透深度,而低的探測頻率會增加穿透深度。

 


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